ВИНОГРАДОВ Евгений Андреевич

ВИНОГРАДОВ Евгений Андреевич (3.10.1941-20.04.2022) – советский и российский физик, член-корреспондент РАН (2008). Р. в д. Карканегер Тоншаевского района Горьковской области. В 1958 окончил Правдинскую среднюю школу №1 (пос. Правда Московской обл.), в 1961 закончил Калининградский механический техникум (г. Калининград Московской обл.) по специальности радиотехник-приборист и был распределен на работу в ЦНИИМАШ. В 1961-1964 служил в рядах СА. В 1964-1970 студент Московского физико-технического института (МФТИ). В 1970-1973 – аспирант МФТИ и Физического института АН СССР (ФИАН). В 1973 защитил кандидатскую диссертацию ("Исследование оптических фононов в полупроводниковых соединениях A²B⁶ методами длинноволновой инфракрасной спектроскопии") и 1982 – докторскую диссертацию ("Спектроскопия колебательных состояний квазидвумерных полупроводниковых структур"). С 1988 – профессор по специальности «оптика». В 1973-1986 в лаборатории «Спектроскопии неупорядоченных сред» Института спектроскопии (ИСАН) АН СССР (г. Троицк, Московская обл.). В 1986–1989 - зав. лабораторией «Физики тонких пленок» ФИАН. В 1989-2015 – директор Института спектроскопии (ИСАН) РАН, зав. отделом спектроскопии конденсированных сред ИСАН.

Область научных интересов и сфера научной деятельности: динамика кристаллической решетки (оптические фононы и поляритоны), структурные фазовые переходы в кристаллах, ИК спектроскопия конденсированных сред в дальнем и ближнем поле, ИК спектральное приборостроение.
Его фундаментальным вкладом  в спектроскопию твердого тела является создание метода исследования спектров ИК термостимулированного излучения поляритонов кристаллов и пленок в дальнем и ближнем поле. Этими методами им с соавторами обнаружены и исследованы радиационные и нерадиационные поверхностные поляритоны кристаллов и пленок; гигантские резонансы электромагнитных мод кристаллической пленки с дипольными возбуждениями материала пленки, приводящие к усилению ИК поглощения до 10⁵ раз.
Им разработаны принципы построения инфракрасных спектрометров с высокой фотометрической точностью и исследована динамика решетки более 200 кристаллов полупроводниковых соединений А₂В₆ и А₃В₆ и семейств их твердых растворов.