БИННИГ Герд (Binnig)

С 1978 научный сотрудником исследовательской лаборатории в корпорации «Интернэшнл бизнес мэшинс» (ИБМ) в Цюрихе, Швейцария. Вместе с Рорером занимался исследованиями поверхности материалов на основе туннельного эффекта. В результате экспериментов по туннелированию электронов через вакуум был создан новый инструмент, названный сканирующим туннелирующим микроскопом. Основной принцип, лежащий в основе этого прибора, включает в себя сканирование поверхности твердого тела в вакууме тонким кончиком иглы. Между кончиком и образцом приложено напряжение, а расстояние между ними поддерживается настолько малым, чтобы электроны могли через него туннелировать. Появляющийся в итоге поток электронов называется туннельным током. Величина туннельного тока экспоненциально зависит от расстояния между образцом и кончиком иглы. Следовательно, водя иглой по образцу и измеряя ток, можно составить карту поверхности в атомном масштабе. Б. и Рорер впервые успешно опробовали туннелирующий микроскоп весной 1981 г. Вместе с двумя другими служащими компании ИБМ Кристофом Гербером и Эдмундом Вейбелем им удалось различать особенности высотой всего в один атом на поверхности кальциево-иридиево-оловянных кристаллов. Аналогичный прибор был создан раньше и независимо американским физиком Расселом Янгом в Национальном бюро стандартов США с помощью несколько отличного принципа, который обеспечивал значительно более низкую разрешающую способность.